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招標(biāo)項(xiàng)目編號：0610-2542IH010039
項(xiàng)目名稱：燕東科技12吋顆粒檢測設(shè)備采購
項(xiàng)目名稱（英文）：Particle detection equipment for 12-inch Semiconductor IC Wafer of YDMT
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：北京國際招標(biāo)
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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